掃描式分光光度計(jì)

ESSENT OPTICS公司的Photon RT UV-VIS-MWIR分光光度計(jì)用于光學(xué)元件的無(wú)人值守測(cè)試，分光光度計(jì)可自動(dòng)在不同角度對(duì)光學(xué)元件進(jìn)行各種偏振態(tài)的透過(guò)率和絕對(duì)反射率測(cè)試，不需要額外添加附件。

· 偏光和分光立方體

· 寬帶增透膜

· 激光平面鏡和標(biāo)準(zhǔn)平面鏡

· 不同形狀和設(shè)計(jì)的棱鏡和楔形鏡

    ·干涉濾光片:

· 長(zhǎng)波通

· 短波通

· 二向色濾光片

· 多波段鍍膜

掃描式分光光度計(jì)產(chǎn)品特點(diǎn)

       快速的光柵切換，使掃描時(shí)間大幅縮短，以185-3500nm的測(cè)試范圍為例，在掃描步進(jìn)間距2nm，每個(gè)點(diǎn)重復(fù)測(cè)試次數(shù)20的設(shè)置下，掃描測(cè)試時(shí)間僅為6分鐘。掃描式 分光光度計(jì)測(cè)試范圍可寬達(dá)185-5200nm，常規(guī)鹵素?zé)?/span>在5000nm附近能量波動(dòng)明顯，導(dǎo)致基線不穩(wěn)定，測(cè)試精度和重復(fù)性較差，Photon RT采用特殊的紅外光源，使基線在5000nm左右依然穩(wěn)定。

      •內(nèi)置寬波段，預(yù)校準(zhǔn)的起偏器，用戶可自定義S:P比率，起偏器可覆蓋220nm-5200nm（不同型號(hào)機(jī)型對(duì)應(yīng)起偏器的覆蓋范圍請(qǐng)見(jiàn)配置清單）

      •樣品臺(tái)、探測(cè)器轉(zhuǎn)臺(tái)和探測(cè)器底座可獨(dú)立旋轉(zhuǎn)，實(shí)現(xiàn)多角度以及特殊角度的測(cè)試。

      •掃描式 分光光度計(jì)具有探測(cè)器自動(dòng)橫向位移功能，探測(cè)器橫向位移60mm，在進(jìn)行厚樣品軸外透過(guò)率測(cè)試時(shí)，可根據(jù)樣品的厚度、折射率自動(dòng)計(jì)算出光線偏折，并進(jìn)行探測(cè)器位置補(bǔ)償。在進(jìn)行復(fù)雜的棱鏡測(cè)試時(shí)，操作人員根據(jù)樣品內(nèi)部 結(jié)構(gòu)計(jì)算光線出射方向及位置，在軟件端輸入探測(cè)器角度和橫向移動(dòng)位置，使傳感器接收到棱鏡的出射光。

      •多功能樣品臺(tái)，除標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)以外，新增批量測(cè)試樣品臺(tái)，XY軸可調(diào)樣品臺(tái)和Z軸可調(diào)樣品臺(tái)。

      •內(nèi)置氮?dú)獯祾吖艿?/span>

      1.200nm以下的測(cè)試，氮?dú)獯祾呖蓽p少氧氣和有機(jī)溶劑的吸收效應(yīng)

      2.2550-2800nm的測(cè)試，可減少水蒸氣和二氧化碳?xì)怏w的吸收

      3.4200-4300nm的測(cè)試，可減少二氧化碳?xì)怏w的吸收

      4.連續(xù)工作在紫外波段時(shí)，可保護(hù)光學(xué)元件

      掃描式 分光光度計(jì)測(cè)試曲線示例：

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